Termes, définitions et paramètres d'états de surface

 

 

Récapitulatif de tous les paramètres

 

Récapitulation des paramètres liés à la ligne moyenne (ISO 4288).

Les paramètres d'amplitude (saillie et creux) :

Hauteur maximale de saillie de profil (Pp, Rp, Wp)
Profondeur maximale de creux du profil ( Pv, Rv, Wv)
Hauteur maximale du profil (Pz, Rz, Wz)
Hauteur moyenne des éléments du profil (Pc, Rc, Wc)
Hauteur totale du profil (Pt, Rt, Wt)

Les paramètres d’amplitude (moyenne des ordonnées) :

Ecart moyen arithmétique du profil évalué (Pa, Ra, Wa)
Ecart moyen quadratique du profil évalué (Pq, Rq, Wq)
Courbe de distribution d’amplitude
Facteur d'asymétrie du profil évalué (skewness) (Psk, Rsk, Wsk)
Facteur d'aplatissement du profil évalué (kurtosis) (Pku, Rku, Wku)

Les paramètres d’espacement :

Largeur moyenne des éléments du profil (PSm, RSm, WSm)

Les paramètres hybrides :

Pente quadratique moyenne du profil évalué (PDq, RDq, WDq)

 

 

Récapitulation des paramètres liés à la courbe de taux de longueur portante (ISO 13565-2).

Calcul des paramètres Rk, Mr1, Mr2
Calcul des paramètres Rpk et Rvk

 

 

Récapitulation des paramètres liés à la courbe de probabilité de matière (ISO 13565-3).

Rpq
Rvq
Rmq

 

 

Récapitulatif des paramètres utilisés pour la méthode du motif (ISO 12085).

Pas moyen des motifs de rugosité, AR
Profondeur moyenne des motifs de rugosité, R
Profondeur maximale d'une irrégularité de profil, Rx
Pas moyen des motifs d’ondulation, AW
Profondeur moyenne des motifs d’ondulation, W
Profondeur maximale d’ondulation, Wx
Profondeur totale d’ondulation, Wte

 

 

Les profils Norme ISO 4287 Notions de filtrage Relations Récapitulatif

 

Retour sommaire