INSTRUMENTS

Les appareils de mesure

Cas des appareils à patin

L’utilisation d’appareils à patins n’est plus prévue dans la nouvelle norme ISO 3274 mais ils sont encore utilisés de nos jours.

La référence de captage n’est pas indépendante de la surface à mesurer, mais elle est donnée par le patin qui s’appuie sur la pièce. Les graphes obtenus avec de tels systèmes représentent donc les écarts relevés entre le patin et le palpeur (dans le sens vertical).

C’est pour cette raison que l’ondulation ne peut pas être identifier avec un appareil à patin. La norme ISO 3274 autorise l’utilisation des appareil à patins que pour les paramètres de Rugosité.

Rayon du patin :

Si un patin est employé, il convient que son rayon dans la direction du palpage ne soit pas inférieur à 50 fois la longueur d'onde de coupure nominale utilisée. Si deux patins sont utilisés conjointement, il convient que leur rayon ne soit pas inférieur à huit fois la longueur d'onde de coupure nominale.

Force d'appui du patin :

Il est recommandé que la force exercée par le patin sur la surface à mesurer ne soit pas supérieure à 0,5 N.

Rugosité de surface du patin :

La partie active du patin doit avoir une rugosité de surface Rz = 0,1mm.

Avantages/Inconvénients des palpeurs à patins :

Le palpeur à patin s’aligne facilement sur la surface à mesurer, mais il ne permet pas de mesurer un écart de forme et ne peut reconnaître, que de façon limitée, la surface palpée, en fonction du type du palpeur à patin, du rayon du patin et en fonction du profil de la surface.

La mesure avec un palpeur à patin est un compromis qui permet un travail rapide et facile, mais qui n’est pas exempt d’erreurs !