INSTRUMENTS
Les appareils de mesure
Cas des appareils � patin
L’utilisation d’appareils � patins n’est plus pr�vue dans la nouvelle norme ISO 3274 mais ils sont encore utilis�s de nos jours.
La r�f�rence de captage n’est pas ind�pendante de la surface � mesurer, mais elle est donn�e par le patin qui s’appuie sur la pi�ce. Les graphes obtenus avec de tels syst�mes repr�sentent donc les �carts relev�s entre le patin et le palpeur (dans le sens vertical).
C’est pour cette raison que l’ondulation ne peut pas �tre identifier avec un appareil � patin. La norme ISO 3274 autorise l’utilisation des appareil � patins que pour les param�tres de Rugosit�.
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Si un patin est employ�, il convient que son rayon dans la direction du palpage ne soit pas inf�rieur � 50 fois la longueur d'onde de coupure nominale utilis�e. Si deux patins sont utilis�s conjointement, il convient que leur rayon ne soit pas inf�rieur � huit fois la longueur d'onde de coupure nominale.
Il est recommand� que la force exerc�e par le patin sur la surface � mesurer ne soit pas sup�rieure � 0,5 N.
Rugosit� de surface du patin :
La partie active du patin doit avoir une rugosit� de surface Rz = 0,1mm.
Avantages/Inconv�nients des palpeurs � patins :
Le palpeur � patin s’aligne facilement sur la surface � mesurer, mais il ne permet pas de mesurer un �cart de forme et ne peut reconna�tre, que de fa�on limit�e, la surface palp�e, en fonction du type du palpeur � patin, du rayon du patin et en fonction du profil de la surface.
La mesure avec un palpeur � patin est un compromis qui permet un travail rapide et facile, mais qui n’est pas exempt d’erreurs !
